Programma van VCCN Cleanliness Day 2026

VCCN Cleanliness Day 2026

Programma van VCCN Cleanliness Day 2026

Op donderdag 12 februari:
9:00 - 10:00 Ontvangst & bezoek bedrijvenmarkt
10:00 - 10:10 Opening en introductie door de dagvoorzitter Philip van Beek
10:10 - 11:00 Cleanliness challenges for the Einstein Telescope - Patrick Werneke, Nikhef
11:00 - 11:30 Pauze en bezoek aan de bedrijvenmarkt
11:30 - 12:00 Clean built – Aydin Koyuk, Apleona
12:00 - 12:30 Aanpak van belangrijkste productreinheidsaspecten - Koos Agricola, Brookhuis
12:30 - 13:30 Lunch en bezoek aan de bedrijvenmarkt
13:30 - 14:00 Deeltjesreinheid van het productoppervlak: hoe en waarom meten? - Maarten Bouwman, Fastmicro
14:00 - 14:30 Cleanliness in the supply chain – Hans Cools, Meilink
14:30 - 15:00 Pauze en bezoek aan de bedrijvenmarkt
15:00 - 15:30 From raw material to cleanroom: cleanliness as the foundation for precision modules - Thijs van Raak, AAE
15:30 - 16:15 Clean assembly - Steffijn de Koning & Tim Wissink, ASML
16:15 - 17:30 Netwerkborrel en bezoek aan de bedrijvenmarkt
  1. Van 10:10 tot 11:00

    Cleanliness challenges for the Einstein Telescope - Patrick Werneke, Nikhef

    De ondergrondse Einstein Telescoop wordt Europa’s meest geavanceerde observatorium voor zwaartekrachtsgolven. Het instrument maakt het mogelijk om extreem kleine trillingen te meten die ontstaan bij onder meer botsende zwarte gaten. Daarmee opent de telescoop nieuwe wegen naar inzichten over het zeer vroege heelal. De uitzonderlijk hoge meetnauwkeurigheid maakt de detector echter ook uiterst gevoelig voor externe trillingen en minimale verontreiniging.

    In deze presentatie licht Patrick Werneke de werking van de Einstein Telescoop toe en bespreekt hij het ontwerp, dat 21.000 m² aan ondergrondse cleanroomruimte omvat. Hij gaat in op de belangrijkste beheers- en reinheidsuitdagingen tijdens het ontwerp- en bouwproces, de strenge cleanroom- en reinheidseisen en de impact die zelfs microscopische vervuiling of individuele deeltjes kunnen hebben op de prestaties van de detector. Tot slot behandelt hij welke maatregelen nodig zijn om de vereiste reinheidsniveaus te bereiken en te behouden.

    Patrick Werneke, Senior Engineer bij Nikhef
    Patrick Werneke is Senior Engineer bij Nikhef en Hoofd van de Engineeringafdeling van de Einstein Telescope Organisation. Sinds 1993 werkt hij bij Nikhef aan geavanceerde onderzoeksinstrumentatie, waaronder het ATLAS-experiment bij CERN, waar hij drie jaar on-site betrokken was bij de installatie van de Inner Detector. Daarna gaf hij vijftien jaar leiding aan de afdeling Mechanische Technologie van Nikhef. Momenteel richt hij zich op het ontwerp en de ontwikkeling van de Einstein Telescoop.

  2. Van 12:00 tot 12:30

    Aanpak van belangrijkste productreinheidsaspecten - Koos Agricola, Brookhuis

    In deze lezing laat Koos Agricola zien hoe productreiniging en contaminatiebeheersing in de praktijk werkt. Hij bespreekt hoe reinheidseisen worden vastgesteld, relevante contaminanten worden geïdentificeerd en maatregelen worden genomen om vervuiling te voorkomen. Ook komt aan bod hoe de juiste reinigingstechniek en procesontwikkeling worden gekozen en hoe wordt geborgd dat het product schoon blijft tijdens handling, opslag en verdere verwerking.

    Koos Agricola, Contamination Control Specialist bij Brookhuis Applied Technologies 
    Koos Agricola is Contamination Control Specialist bij Brookhuis Applied Technologies-Cleanroom en docent bij VCCN. Hij is ingenieur technische natuurkunde en heeft 38 jaar ervaring in productreiniging en contaminatiebeheersing. Bij Canon Production Printing werkte hij 34 jaar aan reiniging, coating en assemblage van functionele onderdelen van productieprinters en beheerde hij de technische infrastructuur van de cleanroom.

    Koos is actief geweest in ISO TC209, ICCCS, CTCB-I en VCCN en deelt zijn kennis regelmatig via opleidingen en lezingen.

  3. Van 13:30 tot 14:00

    Deeltjesreinheid van het productoppervlak: hoe en waarom meten? - Maarten Bouwman, Fastmicro

    Ontdek waarom een cleanroom niet automatisch een schoon product garandeert. Tijdens deze lezing leer je over methoden om de deeltjesreinheid van productoppervlakken te kwantificeren en kwalificeren. Ook komt ISO 14644-9:2022 aan bod, de norm voor classificatie van oppervlaktereinigheid, en wordt uitgelegd hoe de juiste deeltjesgrootte- en concentratielimieten voor productkwalificatie worden bepaald.

    Maarten Bouwman, Engineer bij Fastmicro B.V.
    Maarten Bouwman is sinds 2020 Service Engineer bij Fastmicro, waar hij klanten ondersteunt bij het gebruik van onze systemen en het uitvoeren van metingen van deeltjesreinigheid. Hij heeft negen jaar ervaring in de Brainport semicon-supply chain. Als Engineer bij Fastmicro biedt hij wereldwijd ondersteuning en service, zodat klanten snel, nauwkeurig en kwantitatief metingen van deeltjes op oppervlakken kunnen uitvoeren.

  4. Van 15:00 tot 15:30

    From raw material to cleanroom: cleanliness as the foundation for precision modules - Thijs van Raak, AAE

    Informatie over de lezing volgt binnenkort.

    Thijs van Raak, Technology Specialist bij AAE B.V.
    Thijs van Raak is Technology Specialist Cleanliness & Contamination Control bij AAE B.V. Na het behalen van zijn master Chemische Procestechnologie en zijn PhD in Plasma Chemie aan de TU/e, richt hij zich binnen AAE op reinheidsvraagstukken in het volledige productieproces: van ruw materiaal tot cleanroom-assemblage. Met een moleculaire benadering analyseert en bestrijdt hij verontreinigingsproblemen en werkt hij systematisch aan het verhogen van de interne reinheidsstandaarden van het bedrijf.

  5. Van 15:30 tot 16:15

    Clean assembly - Steffijn de Koning & Tim Wissink, ASML

    De reinheidseisen van ASML, zoals ‘Molecular Grade 1 cleanliness’, reiken soms diep in de toeleveringsketen. Processen in de vroege fasen van de productie kunnen namelijk leiden tot moeilijk te reinigen of zelfs niet-reinigbare contaminatie aan het einde van de productiestroom. Daarom is efficiënte communicatie binnen de supply chain essentieel om te voldoen aan de eisen die gelden voor kritische onderdelen in de ASML-scanner.
    Om zowel kosten als kwaliteit te optimaliseren, heeft ASML een reinheidsraamwerk ontwikkeld dat momenteel samen met ZEISS wordt geïntegreerd om gezamenlijk duidelijke eisen te definiëren en kosten te reduceren.

    Steffijn de Koning & Tim Wissink, Cleanliness expert of critical machine parts bij ASML
    Steffijn de Koning trad in 2021 in dienst bij ASML binnen de competentie cleanliness of parts. Hij heeft een achtergrond in chemische technologie. Binnen ASML ondersteunt hij de toeleveringsketen bij het opbouwen van expertise in het reinigen en verifiëren van kritische machineonderdelen. Als cost-of-goods-architect richt zijn werk zich op het beperken van kosten gerelateerd aan reinheid en op het bijwerken van het GSA-raamwerk in samenwerking met ZEISS-SMT.

    Nederland, Eindhoven, 05-10-2021; Serie portretten van hoogleraren en onderzoekers, tbv van de websites en databaseTim Wissink trad in 2024 in dienst bij ASML binnen dezelfde competentie. Hij heeft een achtergrond in materiaalkunde en oppervlaktechemie. Voor ASML helpt hij de toeleveringsketen bij het versterken van kennis en vaardigheden op het gebied van reiniging en verificatie van kritische onderdelen. Een belangrijk deel van zijn werkzaamheden is gericht op het actualiseren van het GSA-raamwerk in samenwerking met ZEISS-SMT.

Sluiten